이상 개소 특정 시스템은, 표시 장치(80)와, 제어 장치와, 급전 설비의 맵 데이터를 기억한 기억 장치를 구비한다. 제어 장치는, 전원 장치로부터 감열선(4)의 이상이 발생한 위치까지의 거리를 나타내는 거리 정보를 취득하는 거리 정보 취득부와, 이상 개소 표시 처리부를 구비한다. 이상 개소 표시 처리부는, 거리 정보에 기초하여 감열선(4)의 이상이 발생한 이상 발생 개소의 위치를 추정하는 이상 개소 추정 처리와, 맵 데이터에 기초하여 감열선(4)의 배치를 나타낸 맵(M)을 표시 장치(80)에 표시시키고, 또한 이상 개소 추정 처리에 의해 추정한 이상 발생 개소의 추정 위치(E)를 맵(M) 상에 표시시키는 표시 처리를 실행한다.

    An abnormality locating system includes a display device, a controller, and a storage storing map data of a power feeder. The controller includes a distance information obtainer that obtains distance information indicating a distance from a power supply to a location of the abnormality, and an abnormality site display processor. The abnormality site display processor performs an abnormality site estimation process of estimating a location of an abnormality site based on the distance information, the abnormality site is a site of the abnormality of the thermal line, and a display process of causing the display device to display a map indicating a position of the thermal line based on the map data and to display, on the map, an estimated position of the abnormality site estimated through the abnormality site estimation process.


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    Title :

    ABNORMALITY LOCATING SYSTEM


    Additional title:

    이상 개소 특정 시스템


    Contributors:
    OGAWA DAISUKE (author) / TOKUNAGA KEN (author) / HIRANO MASAKI (author) / MUROTA AKIRA (author)

    Publication date :

    2024-12-24


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    Korean


    Classification :

    IPC:    G01R Messen elektrischer Größen , MEASURING ELECTRIC VARIABLES / B60M Speiseleitungen oder Vorrichtungen am Gleis für elektrisch angetriebene Fahrzeuge , POWER SUPPLY LINES, OR DEVICES ALONG RAILS, FOR ELECTRICALLY-PROPELLED VEHICLES / H01L Halbleiterbauelemente , SEMICONDUCTOR DEVICES



    ABNORMALITY DETERMINATION DEVICE, ABNORMALITY DETERMINATION SYSTEM, ABNORMALITY DETERMINATION METHOD, AND ABNORMALITY DETERMINATION PROGRAM

    ISHIKAWA KENTARO / KOKIDO TOMOYOSHI / FUJIYOSHI HIROKI | European Patent Office | 2023

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    ABNORMALITY DETECTING DEVICE, ABNORMALITY DETECTING SYSTEM, ABNORMALITY DETECTING METHOD, AND ABNORMALITY DETECTING PROGRAM

    TSUKAMOTO HIROYUKI / HAMADA YOSHIHIRO / ADACHI NAOKI et al. | European Patent Office | 2025

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    ABNORMALITY DETERMINATION DEVICE, ABNORMALITY DETERMINATION SYSTEM, ABNORMALITY DETERMINATION METHOD AND ABNORMALITY DETERMINATION PROGRAM

    FUJIYOSHI HIROKI / KOKIDO TOMOYOSHI / ISHIKAWA KENTARO et al. | European Patent Office | 2024

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