Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erkennen eines Versorgungsspannungsfehlers einer integrierten Schaltung (300), wobei eine Logikschaltung (100a, 100b) von der Versorgungsspannung (200) versorgt wird, wobei ein eine Gatterlaufzeit der Logikschaltung (100a, 100b) kennzeichnender Wert (104) überwacht und ein Versorgungsspannungsfehler festgestellt wird, wenn der die Gatterlaufzeit der Logikschaltung (100a, 100b) kennzeichnende Wert (104) einen unteren Schwellwert (Pmin) unterschreitet und/oder einen oberen Schwellwert (Pmax) überschreitet.
Verfahren zum Erkennen eines Versorgungsspannungsfehlers einer integrierten Schaltung
2015-08-20
Patent
Electronic Resource
German
SCHALTUNG UND VERFAHREN ZUM ERKENNEN EINES SCHLEICHENDEN KURZSCHLUSSES BEI BRÜCKENSCHALTUNGEN
European Patent Office | 2018
|European Patent Office | 2019
|Verfahren und Schaltung zu einem integrierten Gleichspannungswandler in einer AC-Batterie
European Patent Office | 2023
|Anwendungen einer integrierten schaltung fuer die kfz-elektronik
Tema Archive | 1971
|Verfahren zum Testen einer Schaltung sowie entsprechende Schaltung
European Patent Office | 2025
|