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    Title :

    The use of physics-of-failure analysis to predict the reliability of semiconductor devices


    Additional title:

    Anwendung der physikalischen Fehleranalyse auf die Voraussage der Zuverlaessigkeit von Halbleitergeraeten.



    Publication date :

    1999


    Size :

    6 pages


    Remarks:

    SAE-Paper;1999-01-0163;1999


    Type of media :

    Miscellaneous


    Type of material :

    Print


    Language :

    English