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    Title :

    In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie


    Additional title:

    In situ characterization of electronic features of Si-nanoparrticles with impedance spectroscopy.


    Contributors:

    Published in:

    Publication date :

    2006


    Size :

    6 pages


    Remarks:

    Technische Mitteilungen HT Essen;99(2006)1/2 ;68-73


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




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