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    Title :

    Schneller IR-Messplatz zur Charakterisierung von Solarzellen und Material : dünne Silizium-Wafer durch optimiertes Drahtsägen ; IR-Messplatz/DWS ; Schlussbericht für das Forschungsvorhaben ; Projektdauer: 01.09.2004 bis 31.05.2005



    Publication date :

    2005


    Size :

    26 Bl.


    Remarks:

    Ill., graph. Darst.
    Förderkennzeichen BMBF 0329969. - Literaturverz. Bl. 23
    Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
    Auch als elektronische Ressource vorh.
    Digital preservation by Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Type of media :

    Report


    Type of material :

    Print


    Language :

    German



    Classification :

    BKL:    52.75 Spanende Materialbearbeitung / 53.56 Halbleitertechnologie / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher