Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Schneller IR-Messplatz zur Charakterisierung von Solarzellen und Material : dünne Silizium-Wafer durch optimiertes Drahtsägen ; IR-Messplatz/DWS ; Schlussbericht für das Forschungsvorhaben ; Projektdauer: 01.09.2004 bis 31.05.2005



    Erscheinungsdatum :

    2005


    Format / Umfang :

    26 Bl.


    Anmerkungen:

    Ill., graph. Darst.
    Förderkennzeichen BMBF 0329969. - Literaturverz. Bl. 23
    Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden
    Auch als elektronische Ressource vorh.


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch



    Klassifikation :

    BKL:    52.75 Spanende Materialbearbeitung / 53.56 Halbleitertechnologie / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher