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    Title :

    Ein neues Test-Zeitalter beginnt - Embedded System Access Eingeschrankter physischer Testzugriff erfordert einen deutlichen Paradigmenwechsel


    Published in:

    ELEKTRONIK -MUNICH- ; 61 , 10 ; 46-51


    Publication date :

    2012-01-01


    Size :

    6 pages



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German


    Classification :

    DDC:    621.3




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