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    Titel :

    Compiled Data on Single-Event Effects Caused by Heavy Ions


    Erschienen in:

    NASA tech briefs ; 20 , 4 ; 72-79


    Erscheinungsdatum :

    1996



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    50.00 Technik allgemein: Allgemeines / 50.00 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60



    Compiled Data On Single-Event Effects Caused By Heavy Ions

    Nichols, Donald K. / Coss, James R. / Schwartz, Harvey R. | NTRS | 1996


    Trends in parts susceptibility to single event upset from heavy ions

    Nichols, D. K. / Price, W. E. / Kolasinski, W. A. et al. | NTRS | 1986


    Recent Trends in Parts SEU (Single Event Upset) Susceptibility from Heavy Ions

    D. K. Nichols / L. S. Smith / W. E. Price et al. | NTIS | 1988