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    Titel :

    BRIEFS - Electronic Components and Systems - DRAM Circuit Tolerates Single-Event Upsets


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2000



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    50.00 Technik allgemein: Allgemeines / 50.00 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60



    Single event upsets in space

    PETERSEN, E. | AIAA | 1983


    Single-event upsets in spacecraft digital systems

    Lewkowicz, P.E. / Richter, L.J. | Tema Archiv | 1985



    Estimating Rates Of Single-Event Upsets

    Zoutendyk, John A. | NTRS | 1988


    Anomalies due to Single Event Upsets

    Robinson, P. | Online Contents | 1994