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    Titel :

    Applied SEE Test Data: Modern NAND Flash


    Beteiligte:
    Ted Wilcox (Autor:in) / Rebekah Austin (Autor:in)

    Kongress:

    Single Event Effects (SEE) Symposium & Military and Aerospace Programmable Logic Devices (MAPLD) Combined Workshop ; 2023 ; San Diego, CA, US


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch



    Flash Memory and NAND

    Liu, Zengtao Tony | Springer Verlag | 2022


    COTS 3D NAND Flash: SEE Test Results and Challenges

    Wilcox, Edward / Campola, Michael / LaBel, Kenneth A. | NTRS | 2018


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    British Library Online Contents | 2012


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