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    Titel :

    Latchup Test Consideration for Analog-to-Digital Converter


    Beteiligte:
    Johnston, A. (Autor:in) / Miyahira, T. (Autor:in)

    Kongress:

    Single Event Effects Symposium


    Erscheinungsdatum :

    13.04.2000


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Latchup in CMOS Integrated Circuits

    Soliman, K. A. / Nichols, D. K. | NTRS | 1985


    Latent damage from single-event latchup

    Becker, H. N. / Miyahira, T. F. / Johnston, A. H. | NTRS | 2002


    Single event latchup threshold estimation based on laser dose rate test results

    Chumakov, A.I. / Egorov, A.N. / Mavritsky, O.B. et al. | Tema Archiv | 1997


    High-speed analog-digital converter

    Emerald Group Publishing | 2008


    Programmable Analog-To-Digital Converter

    Kist, Edward H., Jr. | NTRS | 1993