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    Titel :

    A Neat Methodology for Microprocessor Upset Testing


    Beteiligte:
    Swift, G. (Autor:in)

    Kongress:

    Single Event Symposium


    Erscheinungsdatum :

    11.04.2000


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Single-event upset in the Power PC 7400 microprocessor

    Irom, F. / Farmanesh, F. / Swift, G. M. | NTRS | 2002


    UPSET APPARATUS FOR UPSET FLOOD GATE

    Europäisches Patentamt | 2021

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    Single event upset (SEU) testing at JPL

    Coss, James R. | NTRS | 1987


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    Nichols, D. K. / Price, W. E. / Malone, C. J. | NTRS | 1986


    NEAT Gotthard ist Kernstück der NEAT-Netzvariante

    Urech, Pierre-Alain | IuD Bahn | 1997