Report discusses experiments in which ballistic-electron-emission microscopy (BEEM) and related ballistic-hole and charge-carrier-scattering spectroscopies used to investigate transport of electric-charge carriers (electrons and holes) in epitaxial CoSi2/Si system.


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    Titel :

    Ballistic-Charge-Carrier Spectroscopy Of CoSi(2)/Si Interfaces


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1993-12-01



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Maritime Ballistic Safety Carrier

    KENT DAVID G | Europäisches Patentamt | 2016

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    Charge-Carrier-Scattering Spectroscopy With BEEM

    Hecht, Michael H. / Bell, Lloyd D. / Kaiser, William J. | NTRS | 1992