Upper bounds on rates of single-event upsets (SEU's) in digital integrated circuits and other electronic devices exposed to anisotropic fluxes of energetic ionizing particles computed by use of improved method. Derived from simplified, worst-case mathematical models of charge-collecting volumes and physical phenomena in electronic devices.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Upper-Bound SEU Rates In Anisotropic Fluxes


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.03.1993



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch






    Guided modes in anisotropic metal bound waveguides

    Wang, H. / Morales-Romero, A. | British Library Online Contents | 1997


    Throughput Upper Bound for Random Wireless Network

    Kalantari, E. / Malekee, S. Kouhkan / Rahimi, E. et al. | IEEE | 2012


    Upper-Bound Estimates Of SEU in CMOS

    Edmonds, Larry D. | NTRS | 1990