Method for obtaining approximate failure-versus-dose-rate curves derived from experiments on failures of SGS 4007 complementary metal oxide/semiconductor (CMOS) integrated circuits irradiated by Co60 and Cs137 radioactive sources.


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    Titel :

    Failures Of CMOS Devices At Low Radiation-Dose Rates


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1990-11-01



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Failures of CMOS Circuits Irradiated At Low Rates

    Goben, Charles A. / Price, William E. | NTRS | 1990


    Effects Of Dose Rates On Radiation Damage In CMOS Parts

    Goben, Charles A. / Coss, James R. / Price, William E. | NTRS | 1990




    An Analysis of Energetic Space Radiation and Dose Rates

    M. O. Burrell / J. W. Watts / J. J. Wright | NTIS | 1968