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    Titel :

    Phenomenological Study of Radiation Damage and Recovery of Metal-Oxide Field Effect Transistors


    Beteiligte:
    U. D. Desai (Autor:in) / R. L. Van Allen (Autor:in) / J. L. Wolfgang (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    1966


    Format / Umfang :

    13 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Phenomenological study of radiation damage and recovery of metal-oxide field effect transistors

    Desai, U. D. / Van Allen, R. L. / Wolfgang, J. L., Jr. | NTRS | 1966


    Phenomenological study of radiation damage and recovery of metal-oxide field effect transistors

    Desai, U. D. / Van Allen, R. L. / Wolfgang, J. L., Jr. | NTRS | 1967


    Radiation Damage In Advanced Bipolar Transistors

    Zoutendyk, John A. / Goben, Charles A. / Berndt, Dale F. | NTRS | 1989


    Light Induced Recovery of Polymer Field Effect Transistors

    Lloyd-Hughes, J. / Richards, T. / Castro-Camus, E. et al. | IEEE | 2006