Zugriff

    Zum TIB AV-Portal


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Materials Testing - Scanning Electron Microscopy


    Untertitel :

    Lecture


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2022


    Format / Umfang :

    46 MB



    Medientyp :

    Audiovisuelles Material


    Format :

    Audiovisuelles Material


    Sprache :

    Englisch




    In-Situ Fatigue Crack Growth Testing of Al7075-T651 under Scanning Electron Microscopy

    Zhang, W. / Liu, Y. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2011



    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics

    Hou, A.S. / Nechay, B.A. / Ho, F. et al. | IEEE | 1995


    Scanning Electron Microscopy in the Rubber Industrie.

    Smith,R.W. / Goodrich | Kraftfahrwesen | 1975


    Scanning electron microscopy in the rubber industry

    Smith,R.W. / Goodrich | Kraftfahrwesen | 1975



    Vorschau

    Preview Image