We show that the application of ultrafast techniques, specially femtosecond lasers, allow simultaneous measurements of material thickness and optical constants from transmission measurements using a frequency interferometer.


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    Titel :

    Determining thickness independently from optical constants using ultrafast spectral interferometry


    Beteiligte:
    Huang, F. (Autor:in) / Federici, J.F. (Autor:in) / Gary, D. (Autor:in) / Jedju, T. (Autor:in) / Warren, W.S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    1307411 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Measuring Ultrafast Optical Pulses Using Spectral Interferometry

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