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    Titel :

    Determining Thickness Independently from Optical Constants Using Ultrafast Spectral Interferometry


    Beteiligte:
    Huang, F. (Autor:in)

    Kongress:

    CONFERENCE, Lasers & electro-optics ; 2005 ; Baltimore, MD


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    3 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 05CH37634



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Measuring Ultrafast Optical Pulses Using Spectral Interferometry

    Walmsley, I. A. | British Library Online Contents | 1999



    Fiber diameter measurement using spectral interferometry

    Jasapara, J. / Monberg, E. / DiMarcello, F. | IEEE | 2003


    Monitoring the optical thickness of transparency films by homodyne interferometry

    Greco, V. / Trivi, M. / Molesini, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996