We have proposed and developed "terahertz ellipsometry" in which ellipsometry is applied to time-domain spectroscopy in the THz frequency region. In this paper, the complex optical constants of highly doped semiconductors obtained by terahertz ellipsometry are shown. In addition, the incident angle dependence of the measurement precision is discussed.


    Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Measurement of complex optical constant using terahertz ellipsometry


    Beteiligte:
    Nagashima, T. (Autor:in) / Hangyo, M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    121269 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch