The reliability testing methodology of 1550 nm, sub-200 nm broadly tunable InP-based laser chips for external cavity lasers is discussed. The article summarizes FIT rate achieved and degradation observed with multiple manufactured lots.


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    Titel :

    Reliability testing methodology of broadly tunable laser chips for external cavity lasers


    Beteiligte:
    Konoplev, O. (Autor:in) / Heim, P.J.S. (Autor:in) / Merritt, S. (Autor:in) / Bowler, D. (Autor:in) / Hu, Y. (Autor:in) / Saini, S. (Autor:in) / Wilson, S. (Autor:in) / Leavitt, R. (Autor:in) / Stone, D. (Autor:in) / Dagenais, M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    149203 byte





    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch






    High-Power, Diffraction-Limited, External-Cavity Tunable Diode Lasers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    High-power, diffraction-limited, external-cavity tunable diode lasers

    Mehuys, D. / Welch, D.F. / Scifres, D.R. | IEEE | 1993