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    Titel :

    Reliability Testing Methodology of Broadly Tunable Laser Chips for External Cavity Lasers


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 16th, IEEE Lasers & Electro-optics Society; LEOS 2003 ; 2003 ; Tucson, AZ



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 03CH37460




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Reliability testing methodology of broadly tunable laser chips for external cavity lasers

    Konoplev, O. / Heim, P.J.S. / Merritt, S. et al. | IEEE | 2003




    High-Power, Diffraction-Limited, External-Cavity Tunable Diode Lasers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Fast Tunable Blazed MEMS Grating for External Cavity Lasers

    Tormen, M. / European Space Agency / Centre Nationale d'Etudes Spatiales | British Library Conference Proceedings | 2006