We performed characterization of boron nitride thin films made by femtosecond pulsed laser deposition. FT-IR and electron diffraction analysis indicated the content of wurtzite boron nitride phase, for the first time to our best knowledge.


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    Titel :

    Characterization of Boron Nitride Thin Films Prepared by Femtosecond Pulsed Laser Deposition


    Beteiligte:
    Shimizu, T. (Autor:in) / Yoneyama, T. (Autor:in) / Sato, S. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    524670 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




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