Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Analysis Of Surface Roughness On Semiconductor Laser Etched Facets


    Beteiligte:
    Herrick, R.W. (Autor:in) / Sabo, L.G. (Autor:in) / Levy, J.L. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1991


    Format / Umfang :

    211812 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Semiconductor lasers with dry-etched facets [2153-21]

    Ou, S. S. / Yang, J. J. / Jansen, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994



    High Quality Dry Etched InP Semiconductor Laser Facets and Characterization using Atomic Force Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1997


    InGaAsP/InP 1.55-m lasers with chemically assisted ion beam-etched facets

    Daleiden, J. / Eisele, K. / Keller, R. et al. | British Library Online Contents | 1996


    Measurement of Sidewall Roughness of InP Etched by RIBE

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994