We demonstrate the imaging of two-dimensional patterns by IIM and compare the results achieved with a low NA lens having a long working distance, a large-field-of-view and a long depth-of-field with a Fourier optics model and a conventional microscope image of a high NA lens.


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    Titel :

    Imaging interferometric microscopy of two-dimensional structures


    Beteiligte:
    Schwarz, C.J. (Autor:in) / Kuznetsova, Y. (Autor:in) / Brueck, S.R.J. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    314382 byte



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Imaging Interferometric Microscopy

    Kuznetsova, Y. / Neumann, A. / Brueck, S.R.J. | IEEE | 2005


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    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1998



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    Zhang, Bei / Yan, Peng / Wang, Le et al. | British Library Online Contents | 2017