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    Titel :

    Thickness measurement by photothermal deflection method: influence of surface conductance


    Weitere Titelangaben:

    Schichtstaerkenmessung durch photometrische Ablenkung:Einfluesse des Oberflaechenleitwerts.



    Erscheinungsdatum :

    1996


    Format / Umfang :

    7 pages


    Anmerkungen:

    Isata-Proc.;96NM136;1996;29th ISATA, Proc.:Materials for Energy-Efficient Vehicles / Glass Technologies ...,Volume 2


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Thickness Measurement by Photothermal Deflection Method: Influence of Surface Conductance

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    Xiao, L. / Li, C. / Guo, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


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    QIN QI / ZHU XUSHENG / ZHOU LI et al. | Europäisches Patentamt | 2024

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