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    Titel :

    Thickness Measurement by Photothermal Deflection Method: Influence of Surface Conductance


    Beteiligte:
    Bertolotti, M. (Autor:in) / Liakhou, G. (Autor:in) / Li Voti, R. (Autor:in) / Paolini, S. (Autor:in) / Roller, D.

    Kongress:

    International symposium; 29th, Materials for energy-efficient vehicles; Glass Technologies in the automotive industries ; 1996 ; Florence; Italy



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Thickness measurement by photothermal deflection method: influence of surface conductance

    Bertolotti,M. / Liakhou,G. / Voti,R.L. et al. | Kraftfahrwesen | 1996


    Liquid thermal diffusivity measurement by pulsed photothermal deflection technique [3550-42]

    Xiao, L. / Li, C. / Guo, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Surface deflection measurement using structured light

    Muzet, V. / Heinkele, C. / Guillard, Y. et al. | Tema Archiv | 2009



    Airplane control surface deflection angle measurement station planning method

    QIN QI / ZHU XUSHENG / ZHOU LI et al. | Europäisches Patentamt | 2024

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