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    Titel :

    Nanometer displacement measurement using high magnification diffraction imaging


    Weitere Titelangaben:

    Die Messung von Auslenkungen um Nanometer anhand der Abbildung der Lichtbrechung bei hoher Vergroesserung.


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    2005


    Format / Umfang :

    5 pages


    Anmerkungen:

    SAE-Paper;2005-01-0898;2005;Experiments in Automotive Engineering - Optical Techniques;SAE Spec.Publ.; SP-1957


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Nanometer Displacement Measurement Using High Magnification Diffraction Imaging

    Chen, F. / Yang, L. X. / Harwood, P. | SAE Technical Papers | 2005


    2005-01-0898 Nanometer Displacement Measurement Using High Magnification Diffraction Imaging

    Chen, F. / Harwood, P. / Yang, L. X. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Infrared dual-magnification telescope using diffraction optics [4340-24]

    Kerget, I. V. / Korneychik, V. L. / Kudryashov, A. A. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    Absolute measurement of nanometer displacement with Fabry-Perot interferometry

    van den Berg, S.A. / van Kan, P.J.M. / Bergmans, R.H. | IEEE | 2005


    Shape Optimization of Piezo-ceramics Actuators on Displacement Magnification Mechanisms

    Furuya, Hiroshi / Ohira, Hiromichi / Kogiso, Nozomu et al. | AIAA | 2004