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    Titel :

    High-accuracy CMM metrology for micro systems


    Weitere Titelangaben:

    Hoch genaue Koordinatenmessgeraete fuer Mikrosysteme.


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    2004


    Format / Umfang :

    12 pages


    Anmerkungen:

    VDI-Ber.; 2004;8th Int.Symposium on Measurement and Quality Control in Production;VDI-Berichte;Nr.;1860


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



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    Leveque, S. / Salvade, Y. / Dandliker, R. et al. | British Library Online Contents | 2002


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