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    Titel :

    High-accuracy laser metrology enhances the VLTI


    Beteiligte:
    Leveque, S. (Autor:in) / Salvade, Y. (Autor:in) / Dandliker, R. (Autor:in) / Scherler, O. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 38 ; 101-104


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    High Accuracy Absolute Distance Metrology

    Swinkels, B. L. / European Space Agency / Centre Nationale d'Etudes Spatiales | British Library Conference Proceedings | 2006


    High-accuracy CMM metrology for micro systems

    Bos,E.J. / Delbressine,F.L. / Heitjema,H. et al. | Kraftfahrwesen | 2004


    Progress Towards Picometer Accuracy Laser Metrology for the Space Interferometry

    Halverson, P. / Chang, T. / Kuhnert, A. et al. | NTRS | 2000


    Progress towards picometer accuracy laser metrology for the space interferometry mission

    Halverson, P. G. / Kuhnert, A. / Logan, J. et al. | NTRS | 2000


    Camera model selection in high-accuracy 3D vision metrology

    Xiaoqing Zhong, / Ju Huo, / Ming Yang, et al. | IEEE | 2010