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    Titel :

    MEMS Reliability: From Experimental Results to the Understanding of Physical Phenomena


    Beteiligte:
    Pressecq, Francis (Autor:in) / Schmitt, P. (Autor:in) / Veyrie, D. (Autor:in) / Duong, Q. (Autor:in) / Lafontan, X. (Autor:in) / Lellouchi, D. (Autor:in)

    Kongress:

    CANEUS 2004 Conference on Micro-Nano-Technologies ; 2004 ; Monterey , California



    Erscheinungsdatum :

    2004-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    AIAA-2004-6744 MEMS Reliability: From Experimental Results to the Understanding of Physical Phenomena

    Pressecq, F. / Schmitt, P. / Veyrie, D. et al. | British Library Conference Proceedings | 2004


    MEMS Packaging and Reliability Challenges

    Ghaffarian, R. / Rajeshuni, R. | NTRS | 2000


    Reliability of MEMS - a methodical approach

    Muller-Fiedler, R. / Wagner, U. / Bernhard, W. | Tema Archiv | 2002


    Coupled cavity phenomena within MEMS-tunable long-wavelength VCSELs

    Maute, M. / Boehm, G. / Amann, M.-C. et al. | IEEE | 2005


    Coupled Cavity Phenomena within MEMS-Tunable Long-Wavelength VCSELs

    Maute, M. | British Library Conference Proceedings | 2005