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    Titel :

    Visual Scan Patterns of Expert and Cadet Pilots in VFR Landing


    Beteiligte:
    Diaz, Jose L. (Autor:in) / Bil, Cees (Autor:in) / Dyer, Adrian (Autor:in)

    Kongress:

    17th AIAA Aviation Technology, Integration, and Operations Conference



    Erscheinungsdatum :

    2017-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Visual Scan Patterns of Expert and Cadet Pilots in VFR Landing (AIAA 2017-3777)

    Diaz, Jose L. / Bil, Cees / Dyer, Adrian et al. | British Library Conference Proceedings | 2017




    A study of the propensity for communicative aggressiveness in cadet pilots

    M. V. Erkhova / I. Sh. Aizatullova | DOAJ | 2024

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