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    Titel :

    Visual Scan Patterns of Expert and Cadet Pilots in VFR Landing (AIAA 2017-3777)


    Beteiligte:
    Diaz, Jose L. (Autor:in) / Bil, Cees (Autor:in) / Dyer, Adrian (Autor:in) / Garcia, Jair E. (Autor:in)

    Kongress:

    Aviation technology, integration and operations ; 2017 ; Denver, CO



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2017


    Format / Umfang :

    11 pages


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Visual Scan Patterns of Expert and Cadet Pilots in VFR Landing

    Diaz, Jose L. / Bil, Cees / Dyer, Adrian | AIAA | 2017




    Nr. 3777

    DataCite | 1917


    A study of the propensity for communicative aggressiveness in cadet pilots

    M. V. Erkhova / I. Sh. Aizatullova | DOAJ | 2024

    Freier Zugriff