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    Titel :

    Measurement of minority carrier lifetime in infrared photovoltaic detectors using parallel circuit method


    Beteiligte:
    Cui, H. (Autor:in) / Wang, C. (Autor:in) / Wang, J. (Autor:in) / Liu, C. (Autor:in) / Pi, K. (Autor:in) / Li, X. (Autor:in) / Tang, Z. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2015


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    537.5



    Improving MOS minority-carrier lifetime

    Cockrum, R. H. / Li, S. P. / Prussin, S. | NTRS | 1981


    Measurement of Minority Carrier Lifetime in Hg1-xCdxTe Photodetector

    Cui, H. Y. / Li, Z. F. / Xu, X. Y. et al. | IEEE | 2006


    Minority Carrier Lifetime Measurement in GaN by a Differential Phase Technique

    Tan, W. / Spaargaren, S. M. R. / Parish, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Minority carrier lifetime measurement in GaN by a differential phase technique

    Tan, W. / Spaargaren, S.M.R. / Parish, G. et al. | IEEE | 2002