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    Titel :

    Correlation of Scattering Loss, Sidewall Roughness and Waveguide Width in Silicon-on-Insulator (SOI) Ridge Waveguides


    Beteiligte:
    Yap, K.P. (Autor:in) / Delage, A. (Autor:in) / Lapointe, J. (Autor:in) / Lamontagne, B. (Autor:in) / Schmid, J.H. (Autor:in) / Waldron, P. (Autor:in) / Syrett, B.A. (Autor:in) / Janz, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2009


    Format / Umfang :

    3999 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692





    Oxidation Smoothing of Sidewall Roughness in AlGaAs Heterostructure Waveguides

    IEEE Lasers and Electro-optics Society | British Library Conference Proceedings | 2005



    Generalized Simple Theory for Estimating Lateral Leakage Loss Behavior in Silicon-on-Insulator Ridge Waveguides

    Kakihara, K. / Saitoh, K. / Koshiba, M. | British Library Online Contents | 2009