Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Precision Threshold Current Measurement for Semiconductor Lasers Based on Relaxation Oscillation Frequency


    Beteiligte:
    Kane, D.M. (Autor:in) / Toomey, J.P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2009-01-01


    Format / Umfang :

    2949 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



    Relaxation oscillation frequency properties in injection-locked semiconductor lasers

    Hong, Y. / Shore, K. A. | British Library Conference Proceedings | 2000



    Cavity loss measurement from the relaxation oscillation frequency

    Bong Kyu Kim, / Young Min Jhon, / Myong-Wook Kim, et al. | IEEE | 1999