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    Titel :

    An anisotropic diffusion-based defect detection for sputtered surfaces with inhomogeneous textures


    Beteiligte:
    Tsai, D. M. (Autor:in) / Chao, S. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IMAGE AND VISION COMPUTING ; 23 , 3 ; 325-338


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    14 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.367



    Defect detection in random colour textures

    Song, K. Y. / Kittler, J. / Petrou, M. | British Library Online Contents | 1996


    Anisotropic Textures with Arbitrary Orientation

    Almeida, M. P. | British Library Online Contents | 1997



    An anisotropic diffusion-based defect detection for low-contrast glass substrates

    Chao, S. M. / Tsai, D. M. | British Library Online Contents | 2008


    Defect detection in patterned wafers using anisotropic kernels

    Zontak, M. / Cohen, I. | British Library Online Contents | 2010