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    Titel :

    An anisotropic diffusion-based defect detection for low-contrast glass substrates


    Beteiligte:
    Chao, S. M. (Autor:in) / Tsai, D. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IMAGE AND VISION COMPUTING ; 26 , 2 ; 187-200


    Erscheinungsdatum :

    2008-01-01


    Format / Umfang :

    14 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.367



    An anisotropic diffusion-based defect detection for sputtered surfaces with inhomogeneous textures

    Tsai, D. M. / Chao, S. M. | British Library Online Contents | 2005



    Defect detection in patterned wafers using anisotropic kernels

    Zontak, M. / Cohen, I. | British Library Online Contents | 2010


    Smart Interpolation by Anisotropic Diffusion

    Battiato, S. / Gallo, G. / Stanco, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Image statistics and anisotropic diffusion

    Scharr, / Black, / Haussecker, | IEEE | 2003