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    Titel :

    A novel method for determining Young's modulus of thin films by micro-strain gauges


    Beteiligte:
    Pan, C. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MICROSYSTEM TECHNOLOGIES ; 11 , 2/3 ; 151-157


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.83




    Young's modulus of polycrystalline Li22Si5

    Ratchford, J.B. | Online Contents | 2011


    Measurement of Young's modulus on thin films under static and dynamic loading conditions [2004-33]

    Brown, G. C. / Pryputniewicz, R. J. / SPIE et al. | British Library Conference Proceedings | 1994