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    Titel :

    A New Method on Distance Control in Near-Field Scanning Optical Microscopy


    Beteiligte:
    Wu, G. (Autor:in) / Liang, D. (Autor:in) / Tian, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    500



    Nonoptical tipsample distance control for scanning near-field optical microscopy

    Yung-Hui Chuaug, / Chia-Jen Wang, / Huang, J.Y. et al. | IEEE | 1997




    Polarization properties of fully metal coated scanning near-field optical microscopy probes

    Vaccaro, L. / Aeschimann, L. / Nakagawa, W. et al. | IEEE | 2003


    Characterization of silicon micro-ring resonators using near-field scanning optical microscopy

    Vander Rhodes, G.H. / Goldberg, B.E. / Unlu, M.S. et al. | IEEE | 1999