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    Titel :

    Polarization Properties of Fully Metal Coated Scanning Near-Field Optical Microscopy Probes


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 16th, IEEE Lasers & Electro-optics Society; LEOS 2003 ; 2003 ; Tucson, AZ



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 03CH37460




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Polarization properties of fully metal coated scanning near-field optical microscopy probes

    Vaccaro, L. / Aeschimann, L. / Nakagawa, W. et al. | IEEE | 2003



    Effects of Optical Polarization in Reflection-Mode Near-Field Optical Microscopy

    Sasagawa, K. / Yoshida, H. / Tokuda, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Effects of optical polarization in reflection-mode near-field optical microscopy

    Sasagawa, K. / Yoshida, H. / Tokuda, T. et al. | IEEE | 2001


    Nonoptical tipsample distance control for scanning near-field optical microscopy

    Yung-Hui Chuaug, / Chia-Jen Wang, / Huang, J.Y. et al. | IEEE | 1997