Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Effects of Optical Polarization in Reflection-Mode Near-Field Optical Microscopy


    Beteiligte:
    Sasagawa, K. (Autor:in) / Yoshida, H. (Autor:in) / Tokuda, T. (Autor:in) / Ohta, J. (Autor:in) / Nunoshita, M. (Autor:in) / InterOpto / IEEE

    Kongress:

    Pacific Rim conference; 4th, Lasers and electro-optics; CLEO/Pacific Rim 2001 ; 2001 ; Chiba, Japan



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    II-356-357


    Anmerkungen:

    Held with InterOpto2001. IEEE cat no 01TH8557



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Effects of optical polarization in reflection-mode near-field optical microscopy

    Sasagawa, K. / Yoshida, H. / Tokuda, T. et al. | IEEE | 2001


    Polarization properties of fully metal coated scanning near-field optical microscopy probes

    Vaccaro, L. / Aeschimann, L. / Nakagawa, W. et al. | IEEE | 2003




    Imaging characteristics of near-field optical microscope in reflection

    Bozhevolnyi, S.I. / Keller, O. / Smolyaninov, I. | IEEE | 1994