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    Titel :

    The Turnout Abnormality Diagnosis with Semi-supervised Learning Method


    Beteiligte:
    Shi, Zeng Shu (Autor:in) / Du, Yi Man (Autor:in) / Du, Tao (Autor:in) / Shan, Guo Chao (Autor:in)

    Kongress:

    4th International Conference on Electrical and Information Technologies for Rail Transportation (EITRT) ; 2019 ; Qingdao, China



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2020


    Format / Umfang :

    10 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    The Turnout Abnormality Diagnosis with Semi-supervised Learning Method

    Shi, Zeng Shu / Du, Yi Man / Du, Tao et al. | TIBKAT | 2020


    The Turnout Abnormality Diagnosis with Semi-supervised Learning Method

    Shi, Zeng Shu / Du, Yi Man / Du, Tao et al. | Springer Verlag | 2020


    ABNORMALITY DIAGNOSIS SYSTEM AND ABNORMALITY DIAGNOSIS METHOD

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