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    Titel :

    Predicting MEMS Package Level Failure Modes in Automotive Applications


    Beteiligte:
    Caswell, Greg K. (Autor:in) / McLeish, James (Autor:in)

    Kongress:

    SAE 2016 world congress and exhibition



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2016


    Format / Umfang :

    ALL-ALL



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Predicting MEMS Package Level Failure Modes in Automotive Applications

    Caswell, Greg K. / McLeish, James | SAE Technical Papers | 2016


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