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    Titel :

    FA3-1 KEYNOTE ADDRESS: Backside Observation of MOSFET Chips using an Infrared Laser Terahertz Emission Microscope


    Beteiligte:

    Kongress:

    30th, International conference on infrared and millimeter waves; IRMMW-THz 2005 ; 2005 ; Williamsburg, VA



    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and index



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Backside observation of MOSFET chips using an infrared laser THz emission microscope

    Yamashita, M. / Nikawa, K. / Tonouchi, M. et al. | IEEE | 2005


    Laser Terahertz Emission Microscope

    Tonouchi, Masayoshi | IEEE | 2006



    Laser Terahertz Emission Microscope and Its Application

    IEEE Lasers and Electro-optics Society | British Library Conference Proceedings | 2005


    Keynote Address

    IEEE | 2005