Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Observation of MOSFETs without Bias Voltage Using a Laser THz Emission Microscope


    Beteiligte:
    Yamashita, M. (Autor:in)

    Kongress:

    CONFERENCE, Lasers & electro-optics ; 2005 ; Baltimore, MD


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    3 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 05CH37634



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Observation of MOSFETs without bias voltage using a laser-THz emission microscope

    Yamashita, M. / Kawase, K. / Otani, C. et al. | IEEE | 2005



    Backside observation of MOSFET chips using an infrared laser THz emission microscope

    Yamashita, M. / Nikawa, K. / Tonouchi, M. et al. | IEEE | 2005


    Laser Terahertz Emission Microscope

    Tonouchi, Masayoshi | IEEE | 2006


    FA3-1 KEYNOTE ADDRESS: Backside Observation of MOSFET Chips using an Infrared Laser Terahertz Emission Microscope

    Yamashita, M. / Nikawa, K. / Tonouchi, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005