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    Titel :

    Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors Using Widegap Semiconductor Capping Layer


    Beteiligte:

    Kongress:

    6th, Chinese opto-electronics symposium ; 2003 ; Hong Kong, China



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    Also known as COES '03. IEEE cat no 03EX701



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





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