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    Titel :

    Fundamental Limits to the Wavelength Measurement of Optical Signals


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 16th, IEEE Lasers & Electro-optics Society; LEOS 2003 ; 2003 ; Tucson, AZ



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 03CH37460




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Fundamental limits of optical transparency

    Tkach, R.W. / Nagel, J.A. / Strand, J.L. | IEEE | 1998



    There are NO Fundamental Limits to Optical Nanolithography

    Lasers and Electro-optics Society (Institute of Electrical and Electronics Engineers) | British Library Conference Proceedings | 2004


    Fundamental Limits on Optical Pulse Detection and Digital Communication

    Hollenhorst, J. N. | British Library Online Contents | 1995