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    Titel :

    SiC Device Characterization for HEV's


    Beteiligte:

    Kongress:

    Workshop; 7th, Power electronics in transportation ; 2002 ; Auburn Hills, MI



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 02TH8625



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch






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