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    Titel :

    Irradiation of EUV multilayers optics with synchrotron radiation of a different time structure [4782-39]


    Beteiligte:
    Klein, R. (Autor:in) / Scholze, F. (Autor:in) / Thornagel, R. (Autor:in) / Tummler, J. (Autor:in) / Wedowski, M. (Autor:in) / Jansen, R. (Autor:in) / Mertens, B. (Autor:in) / van de Runstraat, A. (Autor:in) / Ulm, G. (Autor:in) / Freund, A. K.

    Kongress:

    conference, X-ray mirrors crystals and multilayers ; 2002 ; Seattle, WA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Topography measurement of nanometer synchrotron optics [4782-02]

    Illemann, J. / Geckeler, R. D. / Weingartner, I. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Challenges for synchrotron x-ray optics [4782-01]

    Freund, A. K. / International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2002


    High-resolution carbon/carbon multilayers [4782-22]

    Baranov, A. M. / Dietsch, R. / Holz, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Nr. 4782

    DataCite | 1937


    Microstructure of Mo/Si multilayers with barrier layers [4782-25]

    Braun, S. / Mai, H. / Moss, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002